REV_ENG'91:

Os níveis de integração e de complexidade actualmente proporcionados pela tecnologia microelectrónica, bem como as novas possibilidades disponíveis para encapsulamento e montagem de circuitos integrados, criam grandes dificuldades ao teste das novas gerações de sistemas electrónicos. Como único caminho para enfrentar e resolver os problemas que esta situação levanta, torna-se imperioso definir uma metodologia de projecto testável que integre as fases de projecto e de teste, e que suscite aceitação generalizada por parte de projectistas de sistemas, e de fabricantes de semicondutores e de equipamentos de teste. O Boundary Scan Test constitui uma metodologia estruturada de projecto de sistemas com boas características de testabilidade, e capaz de responder eficazmente aos desafios colocados pela inovação tecnológica. Esta metodologia foi aprovado como norma do IEEE (1149.1) em Fevereiro deste ano.